SOC测试插座0.4-1.27mm间距不同，有影响吗？

深圳市欣同达科技有限公司2025-02-11

0.4-1.27mm的间距差异会对测试结果产生影响。当间距较小时，如0.4mm，探针与芯片引脚的接触更为紧密，能实现更高密度的信号传输，对于高频高速信号测试具有优势，可以更精细地检测芯片在复杂信号环境下的性能表现。但同时，较小间距对探针的精度和安装工艺要求极高，若探针稍有偏差，可能导致接触不良，出现信号传输中断或错误等问题，影响测试结果的准确性。而当间距较大，如1.27mm时，虽然探针安装相对容易，降低了因安装不当导致接触不良的风险，但在高频信号传输过程中，由于信号路径变长，信号衰减和干扰的可能性增加。这可能会使测试结果显示芯片在高频性能方面表现不佳，无法准确反映芯片的真实能力。因此，在使用该测试插座时，需要根据芯片引脚间距的实际情况，合理调整测试参数，以确保测试结果的可靠性。